T. Kresse, W. Jürgens, D. Meinhard, W. Baumann, T. Bernthaler, G. Schneider

Verschleiß- und Schadenscharakterisierung an beschichteten Hartmetallwerkzeugen mittels FIB-REM-Mikroskopie

Wear and Damage Characterization of Coated Carbide Tools by means of FIB-SEM Microscopy

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In dieser Arbeit wurden zwei unterschiedlich beschichtete kommerzielle Wendeschneidplatten nach Standzeitversuchen an zwei verschiedenen Graugussarten hinsichtlich ihrer Schadens- und Verschleißcharakteristika untersucht. Die oberflächliche und chemische Analyse mittels Rasterelektronenmikroskopie (REM) bzw. Energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX) ergab einen unterschiedlich starken Abtrag der jeweiligen Schutzschicht auf der Verschleißfläche, zudem konnten abhängig von der Beschichtung unterschiedlich ausgeprägte Rissstrukturen identifiziert werden. Mit Hilfe der integrierten Ionenfeinstrahltechnik (FIB) konnten die identifizierten Risse auch hinsichtlich ihres Verlaufs in der Tiefe innerhalb des jeweiligen Bauteils analysiert werden. Die Risse reichen bis tief in das aus WC-Co bestehende Grundmaterial hinein und verlaufen dabei größtenteils durch die duktile Co-Phase.

Bibliographie
T. Kresse, W. Jürgens, D. Meinhard, W. Baumann, T. Bernthaler, and G. Schneider (2018). Wear and Damage Characterization of Coated Carbide Tools by means of FIB-SEM Microscopy. Practical Metallography: Vol. 55, No. 10, pp. 704-715.
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ISSN 0032-678X