In dieser Arbeit werden eine Ätzlösung mit RNO-Ätzmittel und Lösungen mit den Ätzmitteln nach Marble, Vilella und Murakami für den Nachweis der in hochchromhaltigem Gusseisen nach Wärmebehandlungen ausgeschiedenen sekundären Carbide beurteilt, um die Analyse dieser Carbide mittels optischer Mikroskopie (OM) und konfokaler Laser-Scanning-Mikroskopie (Confocal Laser Scanning Microscopy, CLSM) und eine anschließende Binarisierung der so erhalten Bilder zu ermöglichen. Ein Ätzvorgang unter Verwendung der Ätzmittel nach Marble und Murakami brachte die sekundären Carbide am besten zur Geltung, wenn mittels OM analysiert bzw. charakterisiert wurde. Es wurde aufgezeigt, dass die Parameter für den Ätzprozess zum Nachweis sekundärer Carbide in Abhängigkeit des für ihre Beurteilung eingesetzten Verfahrens unterschiedlich ausfallen, d. h. die für einen guten Phasenkontrast geeignete Ätzdauer war für eine Charakterisierung mittels OM nicht die gleiche wie für eine Charakterisierung mittels CLSM.

Es konnte gezeigt werden, dass die Auswahl des geeigneten Ätzmittels und -verfahrens für die anschließende Partikelcharakterisierung mittels Bildanalyse außerordentlich wichtig ist. Die hier vorgestellten Ergebnisse dienen als Orientierungshilfe für die Optimierung von Ätzparametern, um die für den Nachweis der Carbide am besten geeignete Lösung finden zu können.