Ziele:

• Aufgreifen von industriellen und wissenschaftlichen Fragestellungen auf dem Gebiet der Focused Ion Beam (FIB) -Anwendungen in der Materialographie
• Probenpräparation für die Transmissionselektronenmikroskopie (einschließlich lift-out Techniken)
• Querschnittspräparationen für die Rasterelektronenmikroskopie
• Kontrastierungsverfahren für die Rasterelektronenmikroskopie (Orientierungskontrast durch Canneling, Materialkontrast infolge unterschiedlicher Abtragsraten, etc.)
• Mikrobearbeitung (Micromachining)
• Erarbeiten eines wissenschaftlich fundierten Verständnisses für die Wechselwirkungsprozesse bei der Materialbearbeitung
• Initiieren von Forschungs- und Entwicklungsvorhaben: gemeinsame Projekte von Forschungsinstituten, Anwenderindustrie und Geräteherstellern
• Projekte zur Optimierung der Probenqualität und zur Verringerung der Gesamtpräparationszeit
• Erfahrungsaustausch zwischen Gruppen, die auf dem Gebiet der FIB-Anwendung in der Materialographie arbeiten
• Erarbeitung von Empfehlungen/ Entwicklungsanforderungen für die FIB-Gerätehersteller