Leitung: Dr. Hans-Jürgen Engelmann
Arbeitskreis FIB-Anwendungen in der Materialographie
Der DGM-Arbeitskreis "FIB-Anwendungen in der Materialographie" bietet eine Plattform für Kontakte zwischen Vertretern von wissenschaftlichen Institutionen, der Anwenderindustrie und der Gerätehersteller.
Ziele:
- Aufgreifen von industriellen und wissenschaftlichen Fragestellungen auf dem Gebiet der Focused Ion Beam (FIB) -Anwendungen in der Materialographie
- Probenpräparation für die Transmissionselektronenmikroskopie (einschließlich lift-out Techniken)
- Querschnittspräparationen für die Rasterelektronenmikroskopie
- Kontrastierungsverfahren für die Rasterelektronenmikroskopie (Orientierungskontrast durch Canneling, Materialkontrast infolge unterschiedlicher Abtragsraten, etc.)
- Mikrobearbeitung (Micromachining)
- Erarbeiten eines wissenschaftlich fundierten Verständnisses für die Wechselwirkungsprozesse bei der Materialbearbeitung
- Initiieren von Forschungs- und Entwicklungsvorhaben: gemeinsame Projekte von Forschungsinstituten, Anwenderindustrie und Geräteherstellern
- Projekte zur Optimierung der Probenqualität und zur Verringerung der Gesamtpräparationszeit
- Erfahrungsaustausch zwischen Gruppen, die auf dem Gebiet der FIB-Anwendung in der Materialographie arbeiten
- Erarbeitung von Empfehlungen/ Entwicklungsanforderungen für die FIB-Gerätehersteller
Leitung:
Dr. Hans-Jürgen Engelmann
GLOBALFOUNDRIES Dresden
Module One LLC & Co. KG
D-01109 Dresden
GLOBALFOUNDRIES Dresden
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D-01109 Dresden
TeleFon: +49-351-277-4100
Email: hans-juergen.engelmann(at)globalfoundries.com
Email: hans-juergen.engelmann(at)globalfoundries.com
HomePage: www.malab.com/fib/

Erstellt
am 16.09.2016 von
Michael Engstler
am 16.09.2016 von
Michael Engstler